Cihazın Adı:  YÜKSEK SICAKLIK APARATLI X-IŞINLARI KIRINIMI CİHAZI 

Cihazın Markası: BRUKER MARKA D 8 ADVANCE MODEL

 

 

Bruker Marka D 8 Advance model x ışınları kırnımı cihazı Bakır (Cu) ve Molibden(Mo) x ışını tüplerine sahiptir. 1500 0Cye kadar çıkabilen fırını sayesinde yüksek sıcaklıklardaki faz dönüşümlerinin tespiti yapılabilinmektedir. Ayrıca monte edilebilen farklı dedökörleri sayesinde daha hızlı, daha detaylı ve de belirli bölgelere yoğunlaşarak noktasal faz analizleri yapılabilinmektedir. X-IşınıDifraktometre (XRD) sistemi ile; inorganik katı malzemelerin kalitatif ve yarı kantitatif  faz (mineralojik) içeriği, yarı kantitatif amorf faz miktarı, kristal boyutu,sıcaklığa bağlı olarak malzemenin yapısında meydana gelen mineralojik değişiklikler, altlık üzerine kaplanmış ince film kaplamalarının mineralojik içeriği, kalınlığı, üretim esnasında bilerek oluşturulan veya kendiliğinden oluşan tekstür, malzemenin yapısında bulunan ve kullanım esnasında bozulmalara yol açabilecek kalıntı gerilmeleri tespit edilebilmektedir. Ayrıca sıfır arka plan (zero background) numune tutucusu ile 1gr ın altındaki toz numunelere de x-ışınları kırınımı analizi yapılabilmektedir. 

Örnek Özellikleri

 

  • Toz numunelerin analizi için en az 5 gram numune gerekmektedir. (Numune miktarı az elde edilen numuneler veya değerli numuneler için sıfır arka plan(zero background) numune tucusu ile çok az miktarda elde edilen numunelerinde XRD analizleri yapılabilinmektedir.)
  • Numune 100 veya 200 mikron altına öğütülmelidir. 
  • Toz olmayan numuneler için numune yüzeyi düzgün olmalıdır ve genişliği maksimum 5cm ve kalınlığı maksimum 1,5cm yi geçmemelidir.

 

 

Cihazın Adı: X-IŞINLARI KIRINIMI CİHAZI(XRD)

 


Cihazın Markası: SHIMADZU

 

 

 

Shimadzu marka XRD- 6000 model cihaz Bakır (Cu) x ışını tüpüne sahip olup 1,544 0A dalga boyuna sahip Bakır Kα X-ışını kullanılmaktadır. Toz ve düzgün yüzeyli katı örneklerin kalitatif minerolojik veya faz analizleri ve kristal yapı tanımlaması yapılmaktadır. Kalitatif analizler ICDD kartları ile karşılaştırma yapılarak gerçekleştirilmektedir.

X-ışınları kırınım yöntemi kütle veya toz halindeki malzemelerin, kristalin malzemelerin karakterizasyonunda kullanılan temel tekniklerden biridir. Numune üzerine gönderilen dalga boyu bilinen x-ışınları farklı açılarda Bragg kanununa göre malzemedeki düzlemler tarafından kırınıma uğratılır. Bu yöntemle elde edilen paternler her bir faz için parmak izi niteliğinde olup, malzeme içerisinde bulunan fazların tayinini sağlar. XRD ile analizde, malzeme yapısı (kristalin/amorf), kristalin malzemeler için kalitatif mineralojik analiz, latis parametresinin hesaplanması, kristal yapısının belirlenmesi gibi özellikler belirlenebilir.Bu tahribatsız analiz yöntemi malzeme bilimi, jeoloji ve daha birçok  değişik alanlarda yaygın bir kullanıma sahiptir.

 Örnek Özellikleri

  • Her analiz için en az 10 gram numune gerekmektedir.
  • Numune 100 -200 mikron altına öğütülmelidir. 
  • Toz olmayan numuneler için numune yüzeyi düzgün olmalıdır.