Cihazın Adı: ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU

Cihazın Markası: PARKSİSTEM

 


 

Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Taramalı alan mikroskobu üç farklı teknik kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir. Genel kullanım amacı, üç boyutlu yüzey görüntüsü eldesi, nanolitografya, yüzey pürüzlülüğünün tespiti, nano boyutta kalınlık ölçümü olarak sayılabilir.

TEKNİK ÖZELLİKLERİ

XY tarama : 50µm x 50 µm

XY tarama çözünürlüğü: 0.02nm

Z ekseninde tarama: 12µm

Optik mikroskop: 800x